香港高等研究院资深院士郭位教授合着新书 探讨纳米电子制造
香港城市大学香港高等研究院（HKIAS）资深院士、香港城市大学荣休校长郭位教授，与半导体制造专家简维廷博士合着新书 《纳米电子制造中的可靠性与良率》。
本书结合学术研究与产业实务经验，探讨先进半导体制造中两项关键课题——可靠度与良率。书中就电子元件持续微型化所带来的制造挑战，以及如何在生产过程中提升品质、效能与效率，提供具前瞻性的见解。
新书发布会于2026年9月3日于香港城市大学举行，吸引约350名来自学术界、业界、政府及社会各界的嘉宾参与。活动设有院士论坛及专题讨论，聚焦科技创新生态系统与国际化，为与会者提供交流平台，探讨如何透过科研、产学合作及人才培育，推动微电子技术的未来发展。
是次出版彰显郭教授在可靠性工程领域的长期贡献，以及他致力促进学术研究与实际应用相互结合的理念。
郭位教授于《纳米电子制造中的可靠性与良率》新书发布会上致辞。
郭位教授与一众嘉宾于新书发布会上合照。有关新书及发布会的更多详情，请参阅以下报道：
出處連結
- 灼见名家 — 郭位、简维廷合着研究纳米电子制造 冀结合理论与实务
- 星岛头条 — 郭位与简维廷合着半导体新书发布 350领袖见证纳米晶片新里程