香港高等研究院資深院士郭位教授合著新書 探討納米電子製造

2026年09月03日

香港城市大學香港高等研究院（HKIAS）資深院士、香港城市大學榮休校長郭位教授，與半導體製造專家簡維廷博士合著新書 《納米電子製造中的可靠性與良率》。

本書結合學術研究與產業實務經驗，探討先進半導體製造中兩項關鍵課題——可靠度與良率。書中就電子元件持續微型化所帶來的製造挑戰，以及如何在生產過程中提升品質、效能與效率，提供具前瞻性的見解。

新書發佈會於2026年9月3日於香港城市大學舉行，吸引約350名來自學術界、業界、政府及社會各界的嘉賓參與。活動設有院士論壇及專題討論，聚焦科技創新生態系統與國際化，為與會者提供交流平台，探討如何透過科研、產學合作及人才培育，推動微電子技術的未來發展。

是次出版彰顯郭教授在可靠性工程領域的長期貢獻，以及他致力促進學術研究與實際應用相互結合的理念。

郭位教授於《納米電子製造中的可靠性與良率》新書發佈會上致辭。

 

郭位教授與一眾嘉賓於新書發佈會上合照。

有關新書及發佈會的更多詳情，請參閱以下報道：

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